日本千野CHINO IR-CA系列辐射温度计
IR-CA系列是独立式、固定式辐射温度计,配备数字温度显示、参数设置功能和测量值外部输出。有低温型、中高温型、高功能型、超宽型等通用型,以及多种应用型,17种类型可供多种领域的非接触式测温。
楷模
主机
类型 | 测量范围 | 楷模 | |
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低温/长波长 | -50 至 100°C、20 至 1000°C | 红外-CAB | |
低温/短波长 | 30~200℃、100~500℃ | 红外-CAE | |
低温高速 | 50至400°C | 红外-CAK | |
中低温 | 80至800°C | 红外帽 | |
介质温度 | 200~2000℃ | IR-CAI | |
高温 | 500至3500°C | 红外光谱仪 | |
超宽 | 20至3000°C | 红外-CAW | |
按应用 | 聚酯薄膜 | 0至300°C | 红外-CAN |
聚乙烯薄膜 | 30至300°C | 红外摄像机 | |
炉内 | 350 至 100°C、450 至 1300°C 500 至 1500°C | 去车 | |
玻璃 | 100 至 800°C、200 至 1800°C 400 至 2800°C | 红外-CAG | |
硅 | 400 至 800°C、500 至 1000°C 600 至 1200°C | 红外猫 | |
砷化镓 | 400~800℃、500~1000℃ | 红外关闭 | |
食品工业 | 60至100°C | 红外-CAF | |
HMD(热金属探测器) | 100 至 550°C 等效亮温 | IR-CADAC01 |
设置显示单位
楷模 | 规格 |
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IR-GZA0NN | 标准 |
红外-GZA1NN | 带发射率遥控器 |
红外-GZA2NN | 具有反射校正功能 |
规格
低温用
类型 | 低温/长波长 | 低温/短波 | 低温高速 | 低温到中温 | ||
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楷模 | 红外-CAB | 红外-CAE | 红外-CAK | 红外帽 | ||
测量波长 | 8 至 13μm | 4微米 | 4微米 | 2微米 | ||
检测元件 | 热释电元件 | 硒化铅 | 硒化铅 | 硫化铅 | ||
准确率评估 | ±0.8°C | 200°C 以下…±2°C 200°C 以上…测量值的±1% | ±2°C | ±3°C | ±3°C | 低于 500°C…±3°C 500°C 或更高…±5°C |
响应时间 | 2s | 0.2s | 0.02s | 1.5ms | 0.02s | |
发射率校正 | 发射率设定值…1.999 至 0.050 | |||||
光学系统 | 定焦镜头类型 | 对焦型 | 定焦镜头类型 | 对焦型 | ||
测量直径 | φ37/1000mm、φ20/1000mm、 φ15/400mm、φ10/500mm、φ8/200mm、 φ4/200m、φ40/2000mm、φ2/100mm | φ37/1000mm φ15/400mm φ8/200mm | 测量距离/距离系数 距离系数 200 | φ20/1000mm φ10/500mm φ4/200mm | 测量距离/距离系数 距离系数 50、200、300 | |
Spot对焦系统 | 激光瞄准,无取景器 | 取景器对焦 | 激光瞄准,无取景器 | 取景器对焦 | ||
镜头光圈 | φ15mm | φ20mm | φ15mm | φ20mm | ||
模拟输出 | 4 至 20mA 直流隔离输出 | |||||
电源 | 24V DC(允许电压波动范围…22~28V) | |||||
能量消耗 | 大限度。5VA | 大限度。10VA | 大限度。12VA | 大限度。10VA | ||
CE标志 | EMC 指令 EN61326+A1 发射等级 A 抗扰度 Annex A 仅在通过连接器连接时符合 |
高温用
类型 | 介质温度 | 高温 | 超宽 |
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楷模 | IR-CAI | 红外光谱仪 | 红外-CAW |
测量波长 | 1.55微米 | 0.9μm | 8 至 13/1.55/0.9μm |
检测元件 | 铟镓砷 | Si | TP / InGaAs / Si |
准确率评估 | 低于 1000°C…±5°C 1000°C 或更高,低于 1500°C…±0.5% 测量值 1500°C 或更高,低于 2000°C…±1% 测量值 2000°C 或更高…±测量值的 2% (在 ε≒1.0,参考操作条件) | 低于 1000°C…±5°C 1000°C 或更高,低于 1500°C…±0.5% 测量值 1500°C 或更高,低于 2000°C…±1% 测量值 2000°C 或更高…±测量值的 2% (在 ε≒1.0,参考操作条件) | |
响应时间 | 0.003s | 0.1s | |
发射率校正 | 发射率设定值…1.999 至 0.050 | ||
光学系统 | 对焦型 | 定焦镜头类型 | |
距离因素 | 300(选项)、200、50(选项) | ||
测量距离 | 0.5m 到 ∞ | ||
测量直径 | 测量距离/距离系数 | φ29/1000mm | |
Spot对焦系统 | 取景器聚焦或激光瞄准(选项) | 取景器对焦 | |
镜头光圈 | φ20mm | φ30mm | |
模拟输出 | 4~20mA DC 隔离输出 负载电阻…500Ω以下 精度等级…输出范围的±0.2% 分辨率…输出范围的0.04% 缩放比例…可在测量温度范围内自由设定。 虚拟输出…可在模拟输出 0 至 100% 范围内自由设置。 | 4 至 20mA 直流隔离输出 | |
电源 | 24V DC(容许电压变动范围…22~28V) 推荐电源装置IR-ZFEP(S82K-01524 Omron 制造) | 24V DC (允许电压波动范围…22~28V) | |
能量消耗 | 大限度。3VA | ||
CE标志 | EMC指令EN61326 | EMC 指令 EN61326+A1 发射等级 A 抗扰度 Annex A 仅在通过连接器连接时符合 |
各种应用
聚酯薄膜用IR-CAN
使用聚酯聚合物特有的吸收带,可进行高精度测量。用于聚乙烯薄膜的 IR-CAM
通过使用聚乙烯聚合物中所含碳氢化合物的吸收带,可以进行高精度测量而不受薄膜厚度和着色剂的影响。IR-CAR炉内
温度计适用于测量炉内物体和燃烧器直接加热物体的温度。不受燃烧气体影响,可进行高精度测量。IR-CAG for glass
使用玻璃透过率较小且受水蒸气和CO2影响较小的特定波长,可准确测量玻璃表面温度,不受渗透或反射的影响。IR-CAT for Silicon
利用红外光对硅的不透明波段(测量被硅吸收的波长),不受晶片背面加热器的影响,可以准确测量晶片的温度。砷化镓的IR-CAU
使用不透明的红外光波段对砷化镓(测量被砷化镓吸收的波长)精确测量晶片的温度。IR-CAF for Food Industry AF
温度计可以在水果或蔬菜饮料装满罐/瓶后,高速、高精度地测量液体温度。HMD (Hot metal Detector) IR-CADAC01
是判断铝等金属热质存在的专用设备。当检测到高于检测水平的热块时,输出打开。
设置显示单元 IR-GZ
通过连接IR-SA或IR-CA(带有RS-485选项)显示测量值,提供参数设置和供电等。
展示 | 温度、连接温度计编号、状态显示 |
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模拟输出 | 输出1 4~20mADC(IR-GZ输出,负载电阻500Ω以下) |
事件输出 | 2 点 从高温报警、高温报警、低温报警、低/低温报警中选择两个。 继电器“a”触点输出(COM 共用) 触点容量 240VAC1.5A 30VDC1.5A |
电源 | 100-240VAC 通用电源 50/60Hz |
能量消耗 | 大限度。20VA |
工作温度范围 | -10 至 50°C |
工作湿度范围 | 20 至 90%RH(无冷凝) |
重量 | 大约。0.5公斤 |
*关于其他规格,请参阅目录。